艾默生质量流量计型号选择CMF100,CMF200

工作条件：过程条件

过程温度影响

■ 对于质量流量测量，过程温度影响定义为：由于过程温度偏离标定温度而引起的传感器流量精度规格的变化。使用零点校验和智能仪表自校验工具来校正一切过程温度影响。

■ 对于密度测量，过程温度影响定义为：由于过程温度偏离标定温度而引起的密度精度规格的变化。

— 对于所有型号而言，过程温度对密度的影响为与标定温度每偏差 °C，密度 ±0.000015 g/cm3 (±0.015 kg/m3)。

— 对于订购了温度标定选项的型号，密度规格在 0-60°C 的范围内有效，当不在此范围内时，应考虑过程温度。

过程压力影响定义为由于过程压力偏离标定压力而引起的传感器质量流量与密度精度规格的变化。该影响可通过动态压力输入或固定仪表系数进行校正。

泄压

D 系列标准传感器 (DS) 和高压传感器 (DH) 的外壳上安装有爆破片。爆破片的作用是在流量管破裂的罕见情况下，将传感器外壳

中的工艺介质排出。一些用户在爆破片上连接了一条管道，以便排放工艺介质。

如果传感器装有爆破片，则爆破片应始终安装，就像在没有爆破片时必须重复清理外壳一样。如果流量管破裂导致爆破片工作，

爆破片中的密封件将损坏，应停止继续使用该科里奥利仪表。

爆破片在仪表上的位置如下图中所示，图示警告标签粘贴在爆破片旁边。